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Schichtdicken-Messgerät
eisenhaltige Substrate
0 - 1250 µm
Werksstandard (ohne Zertifikat)
(L x B x H) 25 x 21 x 5.3 cm
750 g
LCD
0.1 µm
3 %
1 St.
1250 µm
0 µm
Ultraschall
21 cm
5.3 cm
25 cm
10 mm
LCD
Ja
Datenblatt 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
Bedienungs- und Sicherheitshinweise 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
Information 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
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