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Schichtdicken-Messgerät
eisenhaltige Substrate
0 - 1250 µm
Werksstandard (ohne Zertifikat)
(L x B x H) 250 x 210 x 53 mm
750 g
LCD
0.1 µm
3 %
1 St.
1250 µm
0 µm
Ultraschall
210 mm
53 mm
250 mm
10 mm
Ja
Datenblatt 756154 Sauter TC 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
Bedienungs- und Sicherheitshinweise 756154 Sauter TC 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm