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Conrad

Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

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Highlights & Details

Ergonomisches Design und externer Sensor für höchsten Bedienkomfort

  • Ergonomisches Design und externer Sensor für höchsten Bedienkomfort

Technische Daten

  • Wäge-/Messbereich: 100 | 1250 µm
  • Ablesbarkeit [d]: 0,1 | 1 µm
  • Nettogewicht: ,1 kg
  • Abmessungen (B×T×H): 131×65×28 mm
Produkt-Art

Schichtdicken-Messgerät

Messart

eisenhaltige Substrate

Messbereich

0 - 1250 µm

Werksstandard (ohne Zertifikat)

Abm.

(L x B x H) 25 x 21 x 5.3 cm

Gewicht

750 g

Anzeige

LCD

Auflösung

0.1 µm

Genauigkeit

3 %

Inhalt

1 St.

Messbereich (max.)

1250 µm

Messbereich (min.)

0 µm

Messmethode

Ultraschall

Breite

21 cm

Höhe

5.3 cm

Länge

25 cm

Zifferhöhe

10 mm

Anzeige (Details)

LCD

UKCA

Ja

Dokumente & Downloads

Datenblatt

Datenblatt 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

Bedienungs- und Sicherheitshinweise

Bedienungs- und Sicherheitshinweise 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

Information

Information 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

Beschreibung

Externer Sensor zum leichteren Erreichen schwer zugänglicher Messpunkte. Datenschnittstelle RS-232 serienmäßig. Nullplatte und Justierfolien inklusive. Lieferung im robusten Tragekoffer. Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen. Wählbare Einheiten: µm, inch (mil). Auto-Power-Off.

Lieferumfang

  • Tragekoffer
  • Bedienungsanleitung
  • F- Messkopf (Eisen)
  • Distanzfolien
  • Nullplatte (Eisen)
  • Batterien.

Zubehör

(*Alle Angaben sind zzgl. gesetzl. MwSt)

Das notwendige Zubehör ist erforderlich, um den Artikel wie beschrieben zu verwenden

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